Inhalt des Dokuments
Ehemalige Doktoranden & Postdocs
| Name
| Heute |
|---|---|
| Bellmann, Konrad | SPECS GmbH |
| Debusmann, Ralph | Berliner Glas,
Berlin |
| Dinh,
Duc | Tyndall National Institute, Cork
(Ireland) |
| Drago,
Massimo | Osram Opto Semiconductors,
Regensburg |
| Ewald, Marcel | |
| Frentrup, Martin | University of Cambridge |
| Friedrich, Christian | |
| Hoffman,
Veit | Ferdinand-Braun-Institut,
Berlin |
| Jakomin,
Roberto | CNRS, Paris (France) |
| Kadir, Abdul | Singapore MIT Alliance for Research & Technology
(Singapore) |
| Kaspari,
Christian | LayTec AG, Berlin |
| Kremzow, Raimund | SPECS Surface Nano
Analysis GmbH, Berlin |
| Kolbe, Tim | UVphotonics NT
GmbH |
| Leyer,
Martin | |
| Lobo-Ploch, Neysha | UVphotonics NT
GmbH |
| Martens,
Martin | VDI/VDE Innovation + Technik
GmbH |
| Meißner,
Christian | LayTec AG, Berlin |
| Paßmann, Regina | SPECS Surface Nano
Analysis GmbH, Berlin |
| Ploch, Simon | FLEXIM, Flexible
Industriemesstechnik GmbH, Berlin |
| Poser, Florian | Otto Bock GmbH,
Salt Lake City |
| Pristovsek, Markus | Cambridge
University, Cambridge (UK) |
| Raß, Jens | UVphotonics NT
GmbH |
| Riecke,
Sina | Spectra-Physics,
München |
| Riedle,
Thomas | Helmholtz-Zentrum Berlin (HZB) |
| Schlegel, Jessica | |
| Schmidtling,
Torsten | |
| Skuridina, Daria | University of
California, Berkeley (USA) |
| Stellmach, Joachim | |
| van Look, Jan-Robert | |
| Weeke,
Stefan | Solibro,
Leipzig |
Ehemalige Diplomanden & Masterstudenten
| Name | Heute |
|---|---|
| Alamé,
Sabine | |
| Arlt, Tobias | Helmholtz-Zentrum Berlin
(HZB) |
| Bauch,
Erik | Harvard University, Cambridge
(USA) |
| Biermann,
Amelie | TU Berlin |
| Budack, Fabian | Helmholtz-Zentrum
Berlin (HZB) |
| Duge,
Florian | |
| Falkenburg, Johannes | |
| Fleischmann,
Simon | Ferdinand-Braun-Institut
(FBH) |
| Guderian,
Matthias | Federal Institute for Materials Research &
Testing (BAM), Berlin |
| Hoffmann, Marc | North Carolina
State University, Raleigh (USA) |
| Högele, Michael | Laser 2000,
Berlin |
| Hoppe,
Michael | |
| Jeschke, Jörg | Ferdinand-Braun-Institut (FBH) |
| Kropp, Miron | University of Bremen |
| Kruse, André | |
| Kusch, Gunnar | University of Strathclyde, Glasgow (UK) |
| Kuznecov, Igor | Infineon,
Dresden |
| Matthesius,
Daniel | Jenoptik Polymer Systems, Berlin |
| Myrach, Philipp | Fritz-Haber
Institut der May-Planck Gesellschaft, Berlin |
| Oestereich, Andreas | Fritz-Haber
Institut der May-Planck Gesellschaft, Berlin |
| Rackwitz, Vanessa | Federal Institute
for Material Research & Testing (BAM), Berlin |
| Riele, Linda | Robert Riele GmbH
& Co KG, Berlin |
| Rothe, Mark-Antonius | |
| Şavaş, Özgür | ISAS
Berlin |
| Schenk,
Tobias | LayTec AG, Berlin |
| Schmies, Matthias | |
| Sedlmeier, Katrin | University of Stuttgart |
| Sembdner, Toni | |
| Solopow, Sergeij | Helmholtz-Zentrum Berlin |
| Stascheit, Marcus | |
| Zhao,
Bo | Bühler Technologies GmbH |
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