FP Versuch F22 Reflexions- und Transmissionsspektroskopie an Halbleitern

Standort:
IFKP (Arbeitsgruppe Prof. Kneissl)
Inhalt:
Reflexions- und Transmissionsspektroskopie ist eine der ältesten optischen Methoden zur Untersuchung von Stoffeigenschaften. Schon das bloße Hindurchschauen durch einen transparenten Gegenstand oder die Beobachtung der Reflexion an einer glatten Oberfläche ist ja im weitesten Sinne bereits Spektroskopie.
In diesem Versuch sollen die optische Eigenschaften einiger ausgewählter Halbleiter im Spektralbereich vom nahen Infrarot bis zum nahen Ultraviolett untersucht werden. Ziel ist es, mittels Reflexions- und Transmissionsspektroskopie die dielektrische Funktion bzw. den komplexen Brechungsindex zu bestimmen und daraus Rückschlüsse auf die Bandstruktur des Halbleiters zu ziehen.
Lernziele bzw. Methoden:
• optische Spektroskopie
• Konzept der dielektrischen Funktion
• Kramers-Kronig-Transformationen
• Bandstruktur von Halbleitern
Literatur:
Ralf Arnold: (fast) Alles über die IR-Spektroskopie [1],
Peter Y. Yu, Manuel Cardona: Fundamentals of Semiconductors, 2nd edition, Springer-Verlag 1999
Edward D. Palik (ed.): Handbook of Optical Constants of Solids I+II, Academic Press, Inc.
Skript:
hier [2]