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TU Berlin

Inhalt des Dokuments

FP Versuch E2 Transmissionselektronenmikroskopie

Standort:
IOAP (Arbeitsgruppe Prof. Lehmann)
Inhalt:
Das Transmissionselektronenmikroskop (TEM) erlaubt eine direkte (elektronen-)optische Abbildung von Objekten bis hin zu atomaren Längenskalen. Das in diesem Versuch verwendete TEM erreicht Auflösungen von 0.2 nm. Im Gegensatz zur Lichtmikroskopie ist die Auflösung dabei aufgrund der geringen Wellenlänge der Elektronen (2.5 pm) nicht durch Beugung limitiert, sondern durch äußere Einflüsse und Linsenfehler. Generell Einsetzen lässt sich das TEM um eine Vielzahl von Fragestellungen mit hoher Ortsauflösung zu beantworten.

In diesem Versuch wird vorwiegend ein Einblick in die Strukturuntersuchung gegeben. Dabei wird die Gitterstruktur von Gold-Nanokristallen mittels Elektronenbeugung sowie mittels direkter Abbildung der Kristallebenen untersucht. Ferner wird durch Ausnutzen des direkten optischen Zusammenspiels von Beugungsbild und Abbildung die polykristalline Struktur der Probe näher untersucht (Hellfeld-, Dunkelfeldabbildung, Feinbereichsbeugung). Mittels energiedispersiver Röntgenspektroskie ist es ferner möglich eine ortsaufgelöste Elementverteilung zu messen.

Lernziele bzw. Methoden:
• Aufbau und Kennenlernen des Transmissionselektronenmikroskops
• (Elektronen-)Beugung an Festkörpern
• Kontrastentstehung bei Hellfeld und Dunkelfeld-Abbildungen

Literatur:
D. Williams und B. Carter: Transmission Electron Microscopy. Plenum Press (1996)
L. Reimer: Transmission Electron Microscopy (2nd Ed.). Springer-Verlag (1989)
H. Alexander: Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie. Teubner Studienbücher (1997)

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